奧林巴斯礦石分析儀:用于現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測礦石元素種類及其含量。手持式礦石光譜儀：應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉。

使用手持式礦石光譜儀完成X射線熒光地質(zhì)測井

奧林巴斯礦石分析儀具有很高的分析性能，可以實時提供地球化學(xué)數(shù)據(jù)，從而有助于快速確定土壤、巖石 和礦石的多元素特征。當前在便攜式XRF技術(shù)上的重大進展，大幅降低了檢測時間，優(yōu)化了檢出限，并增加了可測元素 的數(shù)量。如今地質(zhì)工作者通常會使用來自Vanta分析儀的巖石地球化學(xué)信息識別巖石的類型。Vanta分析儀還可以參與完 成一些標準的地質(zhì)測井工作（如：分析土壤、鉆屑和巖芯），因為Vanta分析儀可以在采樣地點即時提供客觀的化學(xué)成分 數(shù)據(jù)。在進行常規(guī)視覺測井的同時甚至之前，可以使用這些數(shù)據(jù)對巖石進行分類，并解讀巖石蝕變和礦化的原因。

Vanta手持式礦石光譜儀所獲得的數(shù)據(jù)有助于辨別巖石的類型并完成蝕變測井。

通過手持式礦石光譜儀獲得的數(shù)據(jù)完成地質(zhì)測井

在地質(zhì)測井工作中，地球科學(xué)家通過肉眼觀察，將包含土壤、鉆屑、石塊和鉆芯在內(nèi)的不同樣本的巖石類型、蝕變情況、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其它特征記錄下來。地球科學(xué)家一般使用測井圖表（地質(zhì)編錄）將所觀察到的特征或順磁特性記錄下來，其中包括：顏色、粒徑大小、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造走向、層理、蝕變、質(zhì)變和橫切。

地質(zhì)測井能力是地球科學(xué)家經(jīng)過對巖石和礦床的采集樣本進行多年的理論研究后，再經(jīng)過多年在原地或使用鉆屑樣本對巖石的地質(zhì)特性進行野外觀察而獲得的一項基本技能。只有這樣，地球科學(xué)家才可以具備開展詳細深入的野外測井工作的資格，以在全球范圍內(nèi)研究地質(zhì)方面的復(fù)雜性和多樣性。因此，在礦產(chǎn)勘探業(yè)中人們經(jīng)常會說：“見到多巖石的地質(zhì)學(xué)家，為勝者"！

便攜式XRF技術(shù)以及其它分析技術(shù)正在改變我們?nèi)粘氖碌默F(xiàn)代化測井的方式。向地理信息系統(tǒng)（GIS）、地質(zhì)信息管理系統(tǒng)（GIMS），以及3維可視化和建模軟件包實時傳送客觀測井信息的技術(shù)，使采礦行業(yè)獲得了革命性的發(fā)展。

地質(zhì)信息管理系統(tǒng)（GIMS）正在顯示來自奧林巴斯便攜式XRF分析儀的實時地球化學(xué)數(shù)據(jù)。

視覺測井具有主觀性

視覺地質(zhì)測井的主要問題是每個地球科學(xué)家對于所看到的巖石都有他們自己的經(jīng)驗、觀點和想法。如果把多個地球科學(xué)家針對某個特定項目得到的數(shù)據(jù)綜合在一起，則會使情況變得非常復(fù)雜。圖1說明了視覺觀察的主觀性，圖中顯示了8個地球科學(xué)家針對同一個巖石層序所提供的測井數(shù)據(jù)。圖中有7個不同的結(jié)果（第6個或第7個地球科學(xué)家復(fù)制了對方的結(jié)果）。

圖1.擁有不同經(jīng)驗的8個地質(zhì)學(xué)家觀察同一個巖石層序所獲得的結(jié)果。

手持式礦石光譜儀
應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領(lǐng)域。
礦產(chǎn)勘探

1、 在地質(zhì)勘探的調(diào)查、犁地、挖溝等階段中，采集礦區(qū)的地球；

2、化學(xué)數(shù)據(jù)，以建立礦區(qū)模型、繪圖，迅速幫助用戶決策；
3、現(xiàn)場快速追蹤礦化異常，有效地尋找"熱點"地帶，定義鉆孔；
4、目標，擴展土壤樣本的勘察邊界；
5、預(yù)篩選樣本，極大地提高在現(xiàn)場以外的實驗室檢測的效率；
6、鉆孔時，可以對空心、RAB、RC 、鉆石芯等樣本進行分析。
礦石開采，品位、過程控制

1、對礦石交易、決策提供理論依據(jù)；
2、在露天礦場對鉆孔樣本進行即時篩檢，從而在搬運礦石/廢料方面提高了效率；
3、對儲礦堆的現(xiàn)場分析有助于為工廠迅速配料和給料；
4、對于進料、精礦、尾料的實時分析，使得在處理廠內(nèi)就可以對材料的配量隨時進行調(diào)整；
5、在礦場應(yīng)用中，通常需要對具體的樣本和基質(zhì)進行特別校準；
6、分析儀使用多種校準模型可以極為方便地進行設(shè)置和操作，從而可保證在實際檢測分析過程中發(fā)揮出性能，甚至在富于挑戰(zhàn)性的輕元素（鎂、鋁、硅）分析中，也能獲得精準的數(shù)據(jù)。